装置の紹介[ANCF]
極端紫外光光電子分光装置
名称 | 極端紫外光光電子分光装置 |
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メーカー | 産総研自主開発 |
導入年月日 | 2013-04-01 |
仕様 | レーザー生成プラズマを用いて生成したパルスEUV光を試料に照射した際に放出される光電子のエネルギーを計測することにより、試料最表面(0.5 nm程度)の電子状態を分析する装置。 絶縁物、導体表面からの光電子のエネルギースペクトルのシフトから、試料表面の汚染状態を評価する、世界で唯一の表面分析装置。 ・励起光波長:4.86 nm ・励起光ビーム径:50 μm ~100 μm ・光電子エネルギー分解能:~0.3 eV ・深さ感度(光電子の脱出深さ):0.5 nm(実測) ・光子フラックス(試料上時間平均):SR同等 ・瞬時キャリア密度:1017/cm3 ・EUV光子エネルギー:255.17 eV ・EUVパルス幅:3 nsec |
