装置の紹介[NPF]
【NPF117】多機能型薄膜Ｘ線回折装置(XRD)
| 名称 | 【NPF117】多機能型薄膜Ｘ線回折装置(XRD) |
|---|---|
| メーカー | PANalytical |
| 導入年月日 | 2025-04-01 |
| 仕様 | 試料サイズ：最大100mmφ 試料ステージ：垂直型(In-Plane時水平) 試料形態：薄膜 測定：２θ/θ、2θ/ω、in-plane2θχ/φ、ロッキングカーブ測定、極点図測定、反射率測定、逆格子空間マッピング測定、高温測定(～1100℃) |
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